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該課程是對可測試設計（DFT）內容的一個系統化的介紹。通過對該課程的學習，學員不僅能對DFT的概念及理論有系統的認識，更重要的是通過課堂內容及實驗的講解，可以對DFT所涉及的問題有一定的分析和解決能力。本課程涵蓋常用的方法---掃描合成（SCAN synthesis）,內建自我測試（BIST），自動測試向量產生（automatic test pattern generation）,及錯誤模型（fault simulation）等，
課程依托大型SOC項目，系統介紹了在實際項目中，怎樣考慮所面臨的問題，并終采取有效的方法
解決測試品質及測試成本等問題。


本課程適合于使用數字電路進行科研和芯片設計的學生和工程師，也適合于有志于從事數字芯片設計工作，期望進入數字芯片設計領域的相關人員。參加學習的學員可以是零基礎的理工科本科生或研究生。

        1、培訓過程中，如有部分內容理解不透或消化不好，可免費在以后培訓班中重聽；
        2、課程完成后,授課老師留給學員手機和Email,保障培訓效果,免費提供半年的技術支持。
        3、培訓合格學員可享受免費推薦就業機會。

課程大綱：

1. VLSI test

2. DFT要點

3. DFT設計流程

4. DFT設計技巧

5. Fault model

6. ATPG

7. ATPG技巧

8. Fault simulation

9. Fault 要點

10. Fault 技巧

11. Fault 流程

12. Scan

13. 掃描技巧

14. 掃描要點

15. 掃描流程

16. JTAG

17. Logic BIST

18. Test compression

19. Memory test

20. Memory 測試要點

21. Memory測試流程

22. Memory測試技巧

23. scan chain/ BSD/BIST　概念與設計方法

24.DFT 的測試原理/測試方法( D算法　向量產生與仿真)

25.BSD 基本單元和JTAG測試　

1.Scan概念及方法介紹

2.Scan實現流程及問題解決

3.Scan DRC violation講解及解決方法

4.Scan技巧

1.BIST/MBIST 方法

2.Memory類型介紹

3.BIST solution

4.MBIST算法

5.MBIST驗證

6.BIST/MBIST 技巧