課程名稱:《數字芯片全流程設計實戰培訓課程》
流片制程:中芯國際 18nm
課時數:120+個課時
課程周期:3個月
課程及項目優勢:
課程覆蓋了從算法、前端設計、數字驗證,到芯片后端實現的整個產業鏈流程。
18nm真實流片:基于過往流片項目經驗,重磅升級!學員能體驗企業中真實芯片設計與開發的過程,并參與真實流片。
資深導師團隊:曙海擁有眾多經驗豐富的行業導師,每位講師都是行業一線的技術專家與資深工程師。
實戰經驗分享:導師帶來的不僅是知識,更是他們在實際項目中多年積累的經驗與技巧,讓學員學到實用技能,提升解決實際問題的能力。
貼合企業需求:課程內容完全與當前企業實際需求相結合,確保學員所學即企業所需。
職業躍遷的黃金機會:快速把控行業脈絡,明確職業定位,迅速適應企業崗位要求。已有學員在完成課程后,成功入職知名芯片企業,實現了職業的快速躍遷。
課程亮點:
1、全局把控:覆蓋全產業鏈技能
芯片設計流程:涵蓋數字芯片設計流程,包括前端設計、數字驗證,體驗從零到一的完整開發過程,掌握跨時鐘域電路設計等關鍵技巧。
芯片后端實現:學習靜態時序分析、布局布線等芯片后端設計核心內容,熟練使用相關工具,實現芯片從邏輯網表到物理實現的全過程。
2、理論+實戰:無縫對接企業需求
真實流片項目貫穿:課程全程以實際ARM芯片項目為載體,每個階段都有對應的項目實操,讓學員在實踐中掌握技能。
貼合企業標準:課程內容完全基于真實企業項目設計,所涉及的技術和流程與企業實際需求高度一致,確保學員入職后能立刻上手。
技能同步提升:在項目實操過程中,學員不僅能鞏固理論知識,還能同步提升解決實際問題的能力,實現理論與實戰的無縫對接。
3、職業適配:多崗位發展路徑
算法工程師:通過課程學習,學員能夠掌握算法的核心知識和開發技巧,具備成為算法工程師的能力,負責算法的研究和優化。
數字IC設計工程師:熟悉數字芯片設計流程和相關技術,能夠獨立完成芯片前端設計工作,成為數字芯片設計工程師,參與芯片的架構設計和電路實現。
數字IC驗證工程師:學習系統級驗證方法和工具,掌握芯片驗證流程和技巧,可勝任驗證工程師崗位,確保芯片功能的正確性和穩定性。
數字IC后端工程師:掌握芯片后端設計的核心技術,如靜態時序分析、布局布線等,能夠完成芯片的物理實現,成為后端工程師。
課程大綱:
第一階段 ASIC設計
1) 邏輯設計理論/ Verilog/ VHDL語言
2) 數字電路驗證(verification平臺建立/功能測試
3) 設計綜合(synthesys)與掃描鏈測試(DFT)
4) 靜態時序分(STA)
5) 數字電路前端設計實戰(有兩個實際芯片項目)
理論學習之外,以實際項目讓學員接觸設計,為此提供完整的免費的EDA軟件安裝服務,并有實際芯片案例,導師指導全程設計。
數字設計的理論部分具體內容如下:
一 邏輯設計理論/ Verilog/ VHDL語言
1 ) HDL 語言簡介
Verilog 語言的產生發展 優勢和特點
編譯仿真的原理
Verilog/VHDL 語言各自現狀及應用
2)verilog語法 (或者 VHDL語法 )
模塊 時延的概念與應用
運算符及優先級
賦值的類型與適用
條件語句 循環語句
Initial always task function 說明語句及使用
行為級建模和可綜合設計
3)數字系統設計
數據流的設計/控制 時序設計
狀態機設計
二 verification平臺建立/功能測試
1) 驗證環節在ic設計流程中的位置,
2) RTL/網表/FPGA/testchip 的驗證階段
3) 驗證計劃
4) verification 的方法學 種類和適用設計
5) RTL verification testbench setup 激勵文件生成
6) RTL語言和高級語言的混合驗證平臺建立
7) 數模混合設計驗證方法學
三 設計綜合(synthesys)與掃描鏈測試(DFT)
1)綜合
綜合的概念
綜合庫與工具介紹
綜合的過程
約束/工作環境的設立
反標文件產生
優化設計
2)DFT
DFT 概念
scan chain/ BSD/BIST 概念與設計方法
DFT 的測試原理/測試方法( D算法 向量產生與仿真)
BSD 基本單元和JTAG測試
四 靜態時序分(STA)
1)靜態時序分析概念
2)數據延遲 setup /hold 的分析
3)時鐘結構 跨時鐘/多時鐘條件
4)端口約束/工作環境設定
5)工作條件/工藝條件 對延遲的影響
6)關鍵路徑與設計優化
7)報告分析
五 實踐項目部分
項目一: RTL coding
中斷管理狀態機設計
驗證平臺設計和使用
測試向量設計
驗證工具的使用
debug 調試
項目二: 基礎通信協議
方案設計
RTL coding
通信算法的運用
CPU控制
FIFO設計與實現
驗證平臺設計和使用
測試向量設計
驗證工具的使用
debug 調試
電路綜合和DFT
靜態時序分析
第二階段 SOC
1.架構及設計流程
2.CPU核
1)指令
2)中斷和異常
3)數據緩沖和指令緩沖
4)內部數據ram和指令RAM
3.AMBA總線
4.外設
1)SRAM
2)DRAM
3)IO
4)DMA
5.項目實戰
設計ARM